Das optische Emissionsspektrometer Spectrogreen ICP-OES mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-OES) erreiche aufgrund seiner „Dual Side On Interface (DSOI)“-Technologie eine doppelt so hohe Nachweisempfindlichkeit wie herkömmliche Geräte mit radialer Plasmabetrachtung.
Spectros DSOI-Technologie sei ein völlig neuer Ansatz, um den Problemen herkömmlicher Plasmabetrachtungsdesigns zu begegnen. Hierbei kämen eine vertikale Plasmafackel und ein doppeltes optisches Interface zur beidseitigen radialen Betrachtung des Plasmas zum Einsatz. Das Ergebnis: Das DSOI biete eine doppelt so hohe Nachweisempfindlichkeit wie herkömmliche Radialsysteme und habe weder die Nachteile, Komplexität noch Kosten vertikaler Dual-View-Geräte.
Das Spectrogreen weise signifikante Vorteile bei der Analyse und Bestimmung von Spurenelementen von Proben mit anspruchsvollen Matrices auf. Dies gelte zum Beispiel für bestimmte Abwässer, Böden und Schlämme, aber auch für industrielle Chemikalien, Metallmatrices oder Proben mit hohen Salzgehalten. Das Spectrogreen sei ideal für die Routineanalytik in Anwendungsfeldern wie Umwelt- und Landwirtschaft, Verbraucherschutz, Pharmazie, Petrochemie, Chemie und Lebensmittel.